型号：JEM-2010F。功能：固体材料结构、成分分析，自制扫描探针-透射电镜双倾转样品台，可用于原位测量的高分辨结构表征功能及光学性能测量。性能：点分辨率0.19 nm，线分辨率0.1 nm，EELS能量分辨率0.7 eV，EDS能量分辨率136 eV。