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2013
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37. J. Bang, Z. Wang, F. Gao, S. Meng, and S. B. Zhang, Suppression of Nonradiative Recombination in Ionic Insulators by Defects: Role of Fast Electron Trapping in Tl-doped CsI,
PHYSICAL REVIEW B
87, 205206 (2013).
2013年11月03日更新