15. Y. Y. Li, G. A. Wang, X. G. Zhu, M. H. Liu, C. Ye, X. Chen, Y. Y. Wang, K. He, L. L. Wang, X. C. Ma, H. J. Zhang, X. Dai, Z. Fang, X. C. Xie, Y. Liu, X. L. Qi, J. F. Jia, S. C. Zhang, and Q. K. Xue, Intrinsic topological insulator Bi2Te3 thin films on Si and their thickness limit, ADVANCED MATERIALS 22, 4002 (2010).