The application of Artificial Intelligence in Scanning Probe Microscopy
202305(06)
202305(06)
2023年05月11日更新
报告题目: The application of Artificial Intelligence in Scanning Probe Microscopy
报告人: 王文宇
报告简介:现代计算机技术的发展使得人工智能在各个领域中都扮演着越来越重要的角色,而在物理学中人工智能的引入已经产生了很多振奋人心的成果。在表面科学研究中,扫描探针显微镜技术(SPM)具有不可替代的重要作用。近些年,研究者将人工智能运用到SPM中,并在表面纳米结构制造,针尖修复,表面结构追踪等方面取得了显著进展。本次报告将简要介绍人工智能及其实现方法,并结合具体实例展示其在若干SPM方法中的应用,展望其在原子智造等前沿领域的巨大潜力。