报告题目： qPlus-AFM在原子制造中的应用

报告人： 王牧宇

报告简介：qPlus-AFM不仅实现了亚原子级别的超高分辨率，扩展了样品表征范围，而且还可以兼容包括STM、MFM、PFM等多种扫描探针显微镜测量模式同时测量，因此为我们进一步了解量子世界提供了一种十分有利的手段。同时随着摩尔定律的发展趋势，电子元器件的尺寸逐步趋近于纳米甚至于更低尺度，量子器件的发展也如火如荼，因而对于相应生产制造技术的要求也与日俱增。使用扫描探针显微技术特别是qPlus-AFM进行原子制造便是一种十分有潜力的解决方法，并已经取得了一定进展。本次报告将简要介绍qPlus-AFM的发展趋势和基本原理，并结合具体应用展示其对于原子单元的操纵和器件结构的构造，展望其在原子制造领域的美好应用前景。