Title：Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Speaker：Jianlin Wang（SF01）

Abstract：电子能量损失谱（Electron energy loss spectroscopy, EELS）是物理学及材料科学等研究领域的重要表征手段，是测量电子与物体相互作用后动能变化的一种分析技术。当在透射电子显微镜（TEM）中进行测量和分析时，EELS能够提供原子中电子的空间环境信息，从而研究样品的多种物理和化学性质。本次报告将主要向大家介绍电子能量损失谱的原理和应用，旨在让大家对EELS技术的功能和优势有更深入的了解，为大家的科研测试需求提供一种可能的选择。