Title：基于透射电镜扫描透射模式微分相位衬度像(Differential Phase Contrast Image)

Speaker：Xinyu Liu（SF01）

Abstract：基于球差矫正的扫描透射电子显微镜已经在材料的局域原子结构、电子结构的表征中起到了举足轻重的作用，我们不仅可以通过STEM-ABF，HAADF等技术，精确确定材料结构，原子位置，还可以借助谱学的手段，采用STEM,EELS，EDX等技术确定原子的种类，电子结构，化学环境等信息。而本次半月谈，将由表面一组的刘欣宇为大家介绍一种最新的电子显微学成像技术——基于透射电镜扫描透射模式微分相位衬度像(Differential Phase Contrast Image)，以及它在表征材料的局域电场，磁结构等方面的最新进展。