Seminars and Talks -- Fortnightly Talks
201308（10）
The author: SF00
Title： Scanning transmission electron microscopy
Speaker：魏家科（SF01)
Abstract：扫描透射电子显微镜（
STEM
）作为一种能达到原子分辨的结构分析仪器已经被广 泛的应用在材料领域。本次报告用简单的物理图像分析了
STEM
中的明场像，环形明场像和环形暗成像的成像原理；讲述了各种成像方式之间的区别和各自的优势，并举例将他们的优势应用在材料的表征中。最后介绍在
STEM
仪器中利用二次电子和背散射电子来呈原子分辨的
SEM
像这样一种能够结合
STEM
和
SEM
的方法。
Time: 2013-10-23
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