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201308(10)
The author:SF00

Title: Scanning transmission electron microscopy

Speaker:魏家科(SF01)

Abstract:扫描透射电子显微镜(STEM)作为一种能达到原子分辨的结构分析仪器已经被广 泛的应用在材料领域。本次报告用简单的物理图像分析了STEM中的明场像,环形明场像和环形暗成像的成像原理;讲述了各种成像方式之间的区别和各自的优势,并举例将他们的优势应用在材料的表征中。最后介绍在STEM仪器中利用二次电子和背散射电子来呈原子分辨的SEM像这样一种能够结合STEMSEM的方法。
Time:2013-10-23
 
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