|
报告题目： Scanning
transmission electron microscopy
报告人：魏家科（SF01)
报告简介：扫描透射电子显微镜（STEM）作为一种能达到原子分辨的结构分析仪器已经被广 泛的应用在材料领域。本次报告用简单的物理图像分析了STEM中的明场像，环形明场像和环形暗成像的成像原理；讲述了各种成像方式之间的区别和各自的优势，并举例将他们的优势应用在材料的表征中。最后介绍在STEM仪器中利用二次电子和背散射电子来呈原子分辨的SEM像这样一种能够结合STEM和SEM的方法。 |
