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透射电子显微镜
     型号:JEM-2010F。功能:固体材料结构、成分分析,自制扫描探针-透射电镜双倾转样品台,可用于原位测量的高分辨结构表征功能及光学性能测量。性能:点分辨率0.19 nm,线分辨率0.1 nm,EELS能量分辨率0.7 eV,EDS能量分辨率136 eV。
 
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