物理半月谈 -- 详细信息  
201903(02)
作者:SF00

报告题目:Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

报告人:王建林(SF01

报告简介:电子能量损失谱(Electron energy loss spectroscopy, EELS)是物理学及材料科学等研究领域的重要表征手段,是测量电子与物体相互作用后动能变化的一种分析技术。当在透射电子显微镜(TEM)中进行测量和分析时,EELS能够提供原子中电子的空间环境信息,从而研究样品的多种物理和化学性质。本次报告将主要向大家介绍电子能量损失谱的原理和应用,旨在让大家对EELS技术的功能和优势有更深入的了解,为大家的科研测试需求提供一种可能的选择。

发表于:2019-3-15
 
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